光驱厂实习报告(4)

介绍：计量值管制图（x-r）常用

1）先行收集100个以上数据，依测定之先后顺序排列之。

2）以2~5个数据为一组（一般采4~5个），分成约20-25组。

3）将各组数据记入数据表栏位内。

4）计算各组之平均值x。（取至测定值最小单位下一位数）

5）计算各组之全距r。（最大值-最小值=r）

6）计算总平均x。

x=（x1+x2+x3+…+xk）/k=ξxi/k（k为组数）

7）计算全距之平均r：

r=（r1+r2+r3+…+rk）/k=ξri/k

8）计算管制界限

x管制图：中心线（cl）=x

管制上限（ucl）=x+a2r

管制下限（lcl）=x-a2r

r管制图：中心线（cl）=r

管制上限（ucl）=d4r

管制下限（lcl）=d3r

a2，d3，d4之值，随每组之样本数不同而有差异，但仍遵循三个标准差之原理，计算而得，今已被整理成常用系数表。

9）绘制中心线及管制界限，并将各点点入图中。

10）将各数据履历及特殊原因记入，以备查考、分析、判断。

（6）管制点之点绘制要领：

1）各项工程名称、管制特性、测定单位、设备别、操作（测定）者、样本大小、材料别、环境变化…等任何变更资料应清楚填入，以便资料之分析整理。

2）计量值变更管制图（x-r，x-r…等）其x管制图与r管制图的管制界限席宽度取法，一般原则以组之样本数（n）为参考，x管制图之单位分度约为r管制图之1/n倍。

（纵轴管制界限宽度约20-30m/m；横轴各组间隔约2-5mm）

（转载自第一范文网http://www.网址未加载，请保留此标记。） 3）中心线（cl）以实线记入，管制界限则记入虚线；各线上须依线别分别记入cl、ucl、lcl、等符号。

4）cl、ucl、lcl之数值位数计算比测定值多两位数即可。

（各组数据之平均计算数则取比测定值多一位数）

5）点之绘制有[·]、[○]、[△]、[×]…等，最好由厂内统一规定。

6）变管制图，二个管制图之绘制间隔最少距20mm以上，可行的话最好距30mm左右。

（7）管制图之判读：

1）管制状态之判断（制程于稳定状态）

a多数点子集中在中心线附近。

b少数点子落在管制界限附近。

c点子之分布与跳动呈随机状态，无规则可循。

d无点子超出管制界限以外。

2）可否延长管制限界限做为后续制程管制用之研判基准：

a连续25点以上出现在管制界限线内时（机率为93.46%）。

b连续35点中，出现在管制界限外点子不超出1点时。

c连续100点中，出现在管制界限外点子不超出2点时。

制程在满足上述条件时，虽可认为制程在管制状态而不予变动管制界限，但并非点子超出管制界限外亦可接受；这此超限之点子必有异常原因，故应追究调查原因并予以消除之。

3）检定判读原则：

a应视每一个点子为一个分配，非单纯之点。

b点子之动向代表制程之变化；虽无异常之原因，各点子在界限内仍会有差异存在。

c异常之一般检定原则：（如图所示）

（8）管制图使用之注意事项：

1）管制图使用前，现场作业应予标准化作业完成。

2）管制图使用前，应先决定管制项目，包括品质特性之选择与取样数量之决定。

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